高溫試驗箱的環(huán)境溫度受電路功率、老化板放置位置、烘箱網(wǎng)速等因素的影響，這些因素使得溫度場(chǎng)發(fā)生變化影響產(chǎn)品的正常老化試驗，嚴重時(shí)會(huì )導致電路故障。這篇文章對影響高溫老化試驗箱的溫度因素進(jìn)行了分析，并采取了更好的散熱措施，防止老化電路過(guò)溫失效。

　　1.高溫試驗箱內溫場(chǎng)的變化受老化電路功率和高溫老化試驗箱散熱能力(風(fēng)速)的影響。不但要控制所加電路的功率，還要改變箱內電路的布置。下層可以盡可能充滿(mǎn)電路，電路功率從下層逐漸降低，形成功率梯度，與箱內的風(fēng)速一致，達到散熱的目的。

 

　　2.采用電熱高溫干燥，風(fēng)源來(lái)自底部。由于承載板和老化板的原因，風(fēng)速自下而上逐漸降低。根據高溫試驗箱的風(fēng)速特點(diǎn)，將老化板的放置方向調整與風(fēng)向一致，增加通風(fēng)面積，減少風(fēng)速阻隔，增強散熱功能。

 

　　3.通過(guò)對測試方法的改進(jìn)，將功率器件DC/DC電源作為測試對象，將溫度設定為80℃、測試電路功率65W逐漸增加到520W，箱內電路功率達到520W，比設定溫度5.6℃，達到了標準8℃或8%的標準。

 

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